PROGRAMAS DE ACTIVIDADES DE I+D ENTRE GRUPOS DE INVESTIGACIÓN DE LA COMUNIDAD DE MADRID CONVOCATORIA EN TECNOLOGÍAS


Infraestructuras


Laboratorio de Síntesis de Nanomateriales. SYNANO, RedLab 361

Unidad de síntesis de fibra macroscópica de CNTs
Horno de tres zonas para crecimiento de fibras
Sistema de inyección ajustable para crecimiento en el espectro SWNT MWNT
Sistema de adición de dopantes durante la reacción de CVD
Control de porosidad mediante inyección/perfil de temperatura
Unidad de tratamiento de fibras de CNTs
Sistema de bobinas para colección de material
Diferencial de velocidad para estiramiento del material y control de velocidad de hilado en el rango 5 – 100 m/min
Sistema de atomización de líquidos para densificar fibras
Equipo para introducir líquidos o polímero dentro de las fibras porosas
Sistema en línea de impregnación con resinas y termoplásticos
Unidad de síntesis de nanomateriales laminados
Horno para crecimiento por CVD de materiales laminados.
Sistema de crecimiento en continuo mediante desplazamiento de sustratos
Sistema de enfriamiento rápido de reacción
Adaptación para crecimiento en sustratos no convencionales (e.g. CF)
Unidad de síntesis de nanomaterials por electrohilado
Electrohilado de fibras poliméricas y de protofibras metálicas y de óxidos metálicos.
Diversas superficies de recolección de membranas: sustrato plano, rotatorio, malla.
Electrohilado de fibras coaxiales.
Cabezal para inyección múltiple.
Sistema de tratamiento térmico para cristalización de fibras inorgánicas
Unidad de producción de nanocomposites
Moldes plásticos y metálicos para producción de nanocomposites de acuerdo a normas
Sistema de degasificación de volúmenes altos (> 1l) y con control de temperatura (hasta 120°C)
Hornos de curado, incluido de vacío.
Sistema de medición de temperatura real y de resistencia eléctrica durante curado
Sistema de curado por corriente eléctrica
Unidad de dispersión de nanopartículas en matrices poliméricas.
Calandra para dispersión de nanopartículas en matrices poliméricas.
Control de parámetros de cizalla: temperatura (10– 120°C), velocidad y separación entre rodillos.
Sistema de medición de resistencia eléctrica durante diferentes etapas del procesado.


Laboratorio de Micro y Nanofabricación. NanoFabLab, RedLab 363

Microscopio SEM Carl Zeiss de UHR, modelo Auriga con cañón FIB cobra en geometría cross beam.
Detectores electrones secundarios ET, secundarios InLenss, EsB InLenss y detector STEM.
Sistema para litografía EBeam, FIB y GIS: Raith Multibeam; de alta resolución con DAC de 32 bits y controlador de 20MHz. Sistema para corrección para efecto de proximidad NanoPecs.
Sistema de Litografía Optica sin máscara de Heidelberg Instruments Gmbh. Modelo DWL66fs. Con dos cabezas de escritura de 4 y 2mm. Con una resolución de hasta 0.6um en campos de escritura de 20x20cm2. Sistema de autoenfoque neumático y/o óptico. Sistema de alineamiento a doble cara.
Sistema de deposición de capa atómica ALD, Modelo Fiji de Cambridge ultratech. Con 6 líneas de precursores térmicos y 6 líneas de precursores de plasma.
Microscopios Ópticos Leica DM4000M, DM750M, M12.
Sierra de Diamante Buehler Isomet 1000.
Scriber de alta precisión OptoPhase Scriber MR200.
Encapsulador semiautomático
Wire ball/wedge/bump bonder. TPT 16B.
Horno de recocido térmico ultrarrápido RTP. Annealsys modelo AsMicro.
Con 1x MFC para O2 o N2.
Ataque químico por haces de iones reactivos RIE ultra compacto PlasmaPld de JLS designs.
Ataque químico seco por haces de iones reactivos CryoICPDRIE para silicio y dieléctricos modelo 100/65 ICPDRIE de Oxford Plamsa Ltd.
Ataque de plasma de MHz para N2, Ar2, O2 y CF4. Modelo GigaBatch de TePla.
Perfilómetro mecánico Dektak KX de Bruker.
Evaporador térmico para metales en atmósfera de HV (Cr, Au, Ni, Al) modelo Nanosphere de Oxford Vacuum Science Ltd.
Evaporador térmico para metales en atmósfera de HV (Pd, Pt, Ag, Al) modelo Univex300 de Oerlikon leybold Gmbh.
Estación de cuatro puntas con porta muestras termostatizado Everbeing EB6, y analizador de parámetros Modelo Keithley 4200SCS.
Sistema de caracterización pulltester chatillon TCM 201 de Ametek.
Sistema para crecimiento de grafeno mediante CVD, modelo Cube de NanoInnova.


Laboratorio de Caracterización Óptica Avanzada. LabCOA, Redlab 279

Dos criostatos ópticos para medidas ópticas, eléctricas y acústicas (1.2 K 300K): Temperatura variable, muestra con diámetro hasta 40 mm
Espectrografo con CCD refrigerado con nitrógeno liquido (300 nm 1000 nm): 1340 x 400 píxel, eficiencia cuántica hasta 95%
Láseres de Nd:YAG pulsados y continuous (1064 nm, 532 nm, 355 nm)
Láseres diodo (modo longitudinal único) con analizador espectral confocal (630 nm 1550 nm (depende de diodo)): 630 nm 1550 nm (depende de diodo)
Laser OPO (225.5 nm 1750 nm): en proceso de adquisición
Electrónica para medida de tiempo de vida de fluorescencia (timecorrelated single photon counting, TCSPC) (50 ps 1 us)
Osciloscopio digital rápido de tiempo real (ancho de frecuencia 4 GHz, 40 GS/s): Tasa de repetición hasta 1 MHz
Digitalizador (200 MHz, 250 MS/s, 14 bit): 2 canales
Generador de señales (9 kHz 6500 MHz, +13 dBm)
Mesa 2D motorizada para microscopías escaneadas de fluorescencia y de tiempo de vida de fluorescencia (25 mm x 25 mm2): Paso minimo: 50 nm
Electrónica de construcción propia para excitación pulsada y detección sensitiva a la fase de ondas de ultrasonido de altas frecuencias


Structure-Performance Relationship Under Work Conditions laboratory. OPERANDO Lab, RedLab 363

Difractómetro de Rayos X. El laboratorio cuenta con dos equipos que pueden ser usados en diferentes aplicaciones en función de los materiales o del tipo de ensayo. PaNalytical Empyrean Se puede utilizar medidas en modo reflexión, transmisión, ángulo rasante y ángulo bajo. Bruker D8 Advance Este equipo además de las medidas estándar permite posee una plataforma rotatoria para medir en capilares por transmisión. Por otra parte, tiene asociada una Cámara de reacción ANTON PAAR XRK900 para medir hasta 900 ºC en vacío o en diferentes atmósferas (rango 0.00110bar). Además, tiene la opción de trabajar con radiación de rayos X de alta energía (Ag) permite obtener información sobre el orden a corto alcance en materiales amorfos o nanoparticulados mediante el estudio por “pair distribution function” (pdf).

Espectrofotómetro Ultravioleta Visible Infrarrojo cercano Perkin Elmer Lambda 1050. El equipo consta de varios accesorios que permiten la medida de muestras sólidas y líquidas así como de tres detectores que abarcan las regiones UVvisNIR. Además, el equipo dispone de un accesorio de reflectancia difusa de sólidos “Praying Mantis”, al que se pe pude acoplar una Celda de atmósfera y temperatura controladas para la realización de estudios en condiciones de reacción.

Espectrofotómetro Laser RAMAN JASCO NRS5100. El equipo permite realizar ensayos tanto en muestras solidas como liquidas y consta de dos fuentes de luz láser: 532 nm (verde) y 785 nm (rojo) y un microscopio confocal con un conjunto de lentes con diferente magnificación (x5, x20, y x100 así como uno específico para la celda de reacción) que serán seleccionadas en función del tipo de muestra y del experimento. Además, los experimentos en condiciones de operación se realizan mediante el uso de una celda de reacción con temperatura y atmósfera controlada.

Espectrofotómetro de infrarrojo por transformada de Fourier Thermo Fischer (2 unidades) equipado con diferentes módulos que permiten realizar diferentes experimento en función de la naturaleza de la muestra o de las condiciones de operación. Posee un accesorio de refrectancia difusa “Praying Mantis” con cámara de reacción, que permite realizar experimento a temperatura y atmósfera controlada. Además, está provisto de una celda de infrarrojos para análisis gases que puede ser acoplada a una salida de gases de un reactor u otros equipos de caracterización.

Microscopio de sonda próxima AFM. Park XE100. El equipo tiene la posibilidad de trabajar en modo no contacto real, en modo contacto dinámico y en modo contacto. Es posible trabajar controlando tanto la atmósfera como la temperatura de la muestra, tanto liquidas como sólidas. Además, está provisto de una celda que permite la realización de ensayos electroquímicos y medir insitu la topografía de los materiales. Por otra parte posee diferentes módulos de medida MFM, STM, TrPCM, EFM. Incluye diversos modos activos como SKPM o DCEFM entre otros.